菲希爾手持式熒光光譜儀
簡(jiǎn)要描述:菲希爾手持式熒光光譜儀/費(fèi)希爾便攜式光譜儀/菲希爾手持x-ray Fischer Fischescope x-ray XAN 500是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于鍍層厚度的無(wú)損測(cè)量及材料分析。 適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
- 產(chǎn)品型號(hào):Fischescope x-ray XAN 500
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2024-07-09
- 訪 問(wèn) 量:1736
FISCHERSCOPE®X射線XAN®500是目前通用的X射線熒光系統(tǒng)。作為一款手持式XRF分析儀,它非常適合在生產(chǎn)線上檢查大型零件(如飛機(jī)零件,管道或渦輪葉片)上的鍍層;菲希爾便攜式x射線測(cè)厚儀/費(fèi)希爾手持式射線鍍層分析儀/菲希爾熒光光譜儀Fischer Fischescope x-ray XAN 500是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。
菲希爾手持式熒光光譜儀/費(fèi)希爾便攜式光譜儀/菲希爾手持x-ray Fischer Fischescope x-ray XAN 500典型的應(yīng)用領(lǐng)域:
在電鍍過(guò)程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測(cè)量
對(duì)合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)
測(cè)試大型樣件,裝配測(cè)量箱后也可以測(cè)試小樣件
一次測(cè)試同時(shí)測(cè)定鍍層的厚度和成分(例如,Fe上的ZnNi合金)
未知合金的無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量
大型鍍層零件(例如機(jī)器部件和外殼)的測(cè)量
電鍍層的測(cè)試
電鍍液金屬含量的分析
正如所有的Fischescope x-ray菲希爾熒光光譜鍍層分析儀器一樣,Fischescope x-ray XAN 500儀器有著出色的精-確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性,這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。的硅漂移探測(cè)器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測(cè)靈敏度。依靠菲希爾/費(fèi)希爾Fischer的*基本參數(shù)法,可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。
菲希爾手持x-ray Fischer Fischescope x-ray XAN 500與市場(chǎng)上其他便攜式X射線熒光設(shè)備相比,可以非-常精-確地確定鍍層厚度。它的三點(diǎn)支撐設(shè)計(jì)使其易于正確放置,并在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中保持穩(wěn)定。高質(zhì)量的硅漂移檢測(cè)器(SDD)確保了分析合金層(如鋅鎳合金)所需的精度。但是,XAN 500不僅僅是一個(gè)用于大型零件的測(cè)量系統(tǒng)。借助可選的測(cè)量箱,只需幾個(gè)簡(jiǎn)單的步驟即可將其轉(zhuǎn)換為臺(tái)式儀器。 這樣您就可以快速、輕松地檢查小零件,如螺母和螺栓。
菲希爾手持式熒光光譜儀/費(fèi)希爾便攜式光譜儀/菲希爾手持x-ray Fischer Fischescope x-ray XAN 500技術(shù)規(guī)格:
1、設(shè)計(jì)理念:
使用手持式儀器可以對(duì)大型工件以及臺(tái)式儀器難以測(cè)量的位置進(jìn)行便捷快速的測(cè)量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以被安全地放置到工件上,無(wú)論是鍍層測(cè)厚或者材料分析,都可以保證其測(cè)量結(jié)果的再現(xiàn)性。所有的儀器操作,以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示,都可以通過(guò)功能強(qiáng)大而界面友好的 軟件在平板電腦上完成。而對(duì)于這款緊湊型設(shè)計(jì)的儀器, 軟件所提供的強(qiáng)大功能都可*適用。
Fischer Fischescope x-ray XAN 500*DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)。
2、通用規(guī)格:
設(shè)計(jì)用途:能量色散型X射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀,用來(lái)進(jìn)行鍍層測(cè)厚及材料分析。
元素范圍:從元素硫(16)到鈾(92)多可同時(shí)測(cè)定24種元素。
形式設(shè)計(jì):手持式儀器
測(cè)量方向:任意可變化的
3、關(guān)于x射線源
x射線管:帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓,電流,功率:高壓大40kv ;陽(yáng)極電流大100uA ;一般功率2W ,大4W
孔徑(準(zhǔn)直器):2mm
測(cè)量點(diǎn)尺寸:3mm
x射線探測(cè)
x射線探測(cè)器:采用珀耳帖法冷卻的硅漂移接收器(SDD)
能量分辨率:≤160eV
Mn元素Kα 半高寬
樣品定位:樣品放置--手動(dòng)
4、電氣參數(shù)
電池充電器:AC115-230V、50/60hz
可充電電池:鋰離子電池7.2v / 6.2Ah
電池的使用時(shí)間:大約6小時(shí)
功率:大20w
保護(hù)等級(jí):IP54
5、尺寸規(guī)格
外部尺寸(寬*深*高) 手持式儀器:210*230*75mm
運(yùn)輸箱:630*485*225mm
重量:手持式儀器 大約1.9kg
包含運(yùn)輸箱,可充電電池和平板電腦大約11.5kg
6、環(huán)境要求
使用時(shí)溫度:10-40℃
存儲(chǔ)或運(yùn)輸溫度:0-50℃
空氣相對(duì)濕度:小于等于95%無(wú)結(jié)露
7、計(jì)算單元:
計(jì)算機(jī):Windows操作系統(tǒng)的平板電腦
軟件:標(biāo)準(zhǔn)Fischer winFTM BASIC包含PDM
可選Fischer winFTM SUPER
8、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
CE合格標(biāo)準(zhǔn):EN61010
X射線標(biāo)準(zhǔn):DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)
型式批準(zhǔn):每臺(tái)儀器都符合德國(guó)x射線標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)法規(guī)規(guī)定
9、訂貨號(hào):
605-826配置包含手提箱,單手操作儀器
605-827雙手操作儀器,外加一個(gè)觸發(fā)開關(guān)。在需要雙手操作的國(guó)家使用,例如瑞士。包含一個(gè)防水的運(yùn)輸箱。
如有特殊要求,可與菲希爾/費(fèi)希爾Fischer磋商,定制特殊的XAN型號(hào)
通用手持式X射線熒光分析儀,即使材料組合困難復(fù)雜的情況下,也可以進(jìn)行精-確的鍍層厚度測(cè)量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)
重量1.9 kg
一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行6個(gè)小時(shí)
測(cè)量點(diǎn):3毫米?
高分辨率硅漂移檢測(cè)器
用于戶外的IP54等級(jí)
用作臺(tái)式設(shè)備的可選測(cè)量箱;
使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)